仪器用途：该仪器适用于LED液晶、导电粒子彩色滤光片、手机屏幕、FPD模组半导体晶图片、FPC-PCB、IC封装光盘CD、图像传感器、CCD、CMOS、PDA光源等需要金相观察及精确测量行业。
仪器特点：超高的工作距离，采用电机升降（日本“信浓”步进电机），方便调节，自带DIC装置插槽。

YR-CNC测量软件介绍：
(1) 测量元素种类齐全：直接测量12种元素（点、直线、圆、圆弧、椭圆、矩形、槽形、○形环、距离、角度、开云线,闭云线）。测量闭合云线的周长，面积及重心，使用三次插值算法。采样点越多，越精准。
(2) 超强寻边算法：确保寻边准确无误.亚像素寻边，精度可达像素的1/10，专业的专家寻边模式，或解决打了表面光之后，寻边困难的问题，通过各种寻边算法的设置，可解决各种各样的寻边难题，从而准确的抓取边界。有自动去毛边功能，对阴暗不明的边界一样可以准确的找出.
(3) 宏测量功能：宏测量功能就是，将一些测量，构造命令关联到一个按钮上。点击按钮，即开始执行宏测量功能，宏测量功能会自动完成构造动作，减少用户操作鼠标次数，提高工作效率。软件提供了16组宏测量功能，用户可以自己编辑宏测量功能按钮的图标。
(4) 强大的构造功能：软件提供向导的构造功能，这是软件的一大特色。客户想要什么结果,直接点击相关按钮，就可以自动得到想要的结果.软件提供了10种构造法（【平移】、【旋转】、【提取】、【组合】、【平行】、【垂直】、【镜像】、【对称】、【相交】、【相切】）
(5) 世界先进的小R角测量算法：对于大半径,小弧长的R角，一直是测量界的测量难题，我公司经过大量的实验及算法优化，终于创造出一套行之有效的算法,很好的解决这一问题.通过测量弧及弧相邻的两条切线，可解决这一难题.经实践,重复性可达0.01之内.
(6) 自动判别测量(自动识别线，圆，弧)：只要将鼠标放在工件的边缘上，即可自动寻边得到线，圆或者弧.
(7) 显示结果丰富：对各种元素的测量结果显示﹐其信息量大﹐能满足各种客户的需要。并可设置哪些内容显示,哪些内容不显示﹐也可以单个元素进行单独设置其显示信息。也可对同类元素进行设置.
(8) 超差红色警示：如果测量结果超差，会指示是哪项内容超差，并将该项显示成红色，对应的图形也会变成红色.
(9) 能显示光学放大倍率和屏幕放大倍率：下图中显示了光学放大倍率与屏幕放大倍率，屏幕放大倍率是由软件自动计算得到的，并能显示一个像素相当于多少mm。
(10) 能建立多重工件坐标系：可根据图纸建立多重工件座标系。实现各坐标系的座标变换；能方便地实现直角坐标系与极坐标系之间的相互转换；能实现各工件坐标系的存储和调用。建立座标系后，如果选择了十字线旋转功能，十字线会作旋转，指示座标系的旋转方向
(11) 建立用户程序方便快捷：可以通过平移和旋转建立的用户程序。
(12) 编辑修改用户程序,直观方便：可以删除，插入任一元素，包括座标系。可以查看某个元素的寻边状况，及改变寻边测量的环境。如果有必要，可以重新测量一个元素，以改变它的测量方法及环境。
(13) 机器自动测量过程中可进行手动测量：如果客户在测量某个，或某几个元素时，希望手动测量它，而不希望机器自动去测，软件可以轻松实现。软件提供了断点设置功能，可在要手动测量的元素地方，设置断点，则机器运行到该处时，会自动停下来。
(14) 运行用户程序时，可将数据自动对齐导入到Excel中：
(15)运行用户程序时，可将数据自动导入到专业的SPC软件中：在我们专业的SPC软件中设置好工件资料后，只要测量完一个工件，数据会自动发送到SPC软件数据中，不需要通过TXT文件或第三方软件进行转换。整个过程都是自动完成的，不需要人为的干涉。
(16) 测量异常时,可以进行智能处理：软件提供超差暂停和测量失败暂停功能，比如，在测量的过程，不小心工件动了。这时机器会暂停下来，并让选择作后面的进一步的处理.
(17) 自动对焦功能：提供精准对焦和快速对焦功能,可以通过对焦测量高度值，在2.0X的光学倍率下，对焦重复性可达0.003mm..或通过自动对焦得到当前的点座标。也可以设置在运行用户程序时，是否进行自动对焦.
(18) 辅助调光：调光指示器,会指示用户什么时候光强最好﹐避免了因打光所带来的测量误差﹐提高了测量精度和测量效率。
(19 ) 多达9种运动控制模式： 软件提供九种运动的控制模式，方便用户移动工作台,分别为：用操作盒移动工作台，在影像窗口点击鼠标中键，在影像窗口接住右键不放进行移动，在绘图窗口点击鼠标中键，在元素列表窗口选择移到此处，在运动控制窗口区点击鼠标，在扫描窗口点击鼠标中键，在地图窗口点击鼠标中键,输入座标值进行移动。
(20) 标注功能：能直接在绘图区及影像区的元素图形上标注角度、距离、X方向距离、Y方向距离、圆（弧）半径、圆（弧）直径、弧长。
(21) 系统误差修正：软件带有系统误差修正功能。目前可进行线性，区段补偿，垂直度误差补偿，面补正，Z轴直线度误差补偿，镜头中心偏移误差补偿。
(22) 公差：完善的尺寸公差计算能力。可设置默认的公差带。并且可以批量设置公差带及名义值.符合国标的形位公差计算能力，能计算形状公差，真直度，圆、弧的真圆度。位置公差计算包含位置度、平行度、垂直度、倾斜度及同心度﹐对称度。超差能自动报警，并以红色警示。
(23) 极座标和直角坐标可进行切换：软件支持极座标与直角坐标混合编程，可以是某几个元素显示为极座标，某几个元素显示为直角坐标。并能对应的导出到报表中。
(24) 自动打印功能：软件支持自动打印功能，即测量完成后，可以自动打印结果，并且可以打印超差的元素，或者是合格的元素，或是所有元素。这些都可以由客户自已设定
(25)  影像设置的参数可以进行编程：即对影像设置的对比度，亮度，色度可以记录进程序中,在再运行时，可以重现当时设置的影像状态.
(26) DXF档导入编程：Dxf档导入，自动产生名义值，并自动产生工件的测量程序。测量完成后，可进行测量值和名义值的比对。
(27) 扫描功能：可多区域扫描工件的边缘上的点，这个扫描是将影像窗口内边缘上的点全部扫描进来，形成点数据，并将扫描得到的点保存成DXF档，下图为整个工件的边缘扫描所得到的图形，点击鼠标中键移到当前处。
(28) 可以加装第二个摄像头,用来进行工件定位：软件支持第二个摄像头，可以拍到更大的图像范围,从而可以利用这个摄像头进行工件定位。在这个摄像头拍的图像中，可以指哪里，机器将移向哪里。便于客户快速找到要测量的工件位置
(29) 大地图功能，并能在地图进行标注：可将工件分成多个区域进行拍照，形成大地图，并能在地图上进行标注。
(30) 一次测量多个相同工件(阵列测量)： 提供多个相同工件放置在工件台，可以一次性测量完成所有的工件，这就是阵列测量。软件提供矩形阵列和环形阵列功能。矩形阵列就是工件在水平和垂直方向呈规律放置。环形阵列就是工件绕着某点旋转，呈环形状态。并自动将测量数据导出到报表及SPC软件中.
(31) 轮廓跟踪：可以进行自动轮廓跟踪，无论是规则的图形还是不规则的图形，都可以进行自动跟踪工件的轮廓。
(32) 影像测量平面度的功能：软件有通过影像测量平面度的功能及求点到平面的距离等简易3D测量功能.
(33)在线SPC功能：提供独立的,专业的SPC软件﹐进行测量数据的后续处理，测量软件与SPC软件无缝连接﹐测量软件完成测量后,自动将数据导入到SPC数据库﹐不需要人工再输入﹐所有的管制界限的设置全部在测量软件中完成﹐SPC软件无需再设置﹐从而大大提高效率。SPC提供制程用和分析用管制图。提供的管制图有：平均数全距管制图，平均数标准差管制图，中位数全距管制图，个别值与移动平均值管制图，直方图，cpk推移图，规格标准差管制图，制程标准差管制图，标准差比较图，制程建议分析图等。对生成的图形可以利用八大判定规则进行判定。
(34) 可以加装激光测头：可以加装激光测头，进行激光测量，激光测头可与影像测头共座标。并可以进行混合编程。
(35) 可以加装接触测头：软件支持接触测头，进行三维空间的测量。

轻松学习区域
三坐标系列（三次元、三维测量仪、3D测量仪）
仪器用途：该类仪器主要以三维检测为目的，采用了英国接触式的探头测针。被广泛用于精密模具、汽车零配件、塑胶件等各类物件的检测使用。
影像仪系列（二次元、2.5次元、CNC全自动影像仪、二维测量仪、2D测量仪）
仪器用途：该类仪器主要以二维检测为目的，采用了第四代半导体LDE灯照明，进行非接触式的测量。被广泛用于机械、五金、电子、模具、塑胶、PCB板等各类物件的检测使用，是计量室和生产车间不可缺少的检测仪器设备。
金相（工具）显微镜系列（金相显微镜、金相工具显微镜、工具显微镜、小型工具显微镜）
仪器用途：该类仪器主要以二维检测和观察为目的，采用了第四代半导体LDE灯和卤素灯照明，进行非接触式的测量和观察。1.金相类——被广泛用于LED液晶、导电粒子彩色滤光片、FPD模组、半导体晶图片、FPC—PCB、IC封装光盘CD、图像传感器、CCD、CMOS、PDA光源等产品的观察及检测。2.工具类——被广泛用于机械、五金、电子元件、模具、塑胶、钟表、弹簧、螺丝、连接器等各种产品的检测使用。
投影仪系列（工业投影仪、机械式投影仪、数字式精密投影仪）
仪器用途：该类仪器主要以二维检测为目的，采用了全新的结构原理，简单易学。被广泛用于机械、五金、电子元件、模具、塑胶、钟表、弹簧、螺丝等各类物件的检测使用。