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轮廓测量仪
产品类型:轮廓测量仪
产品产地:德国
产品应用:轮廓测量
MarSurf XC 20 为轮廓评估的卓越产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过技术发展为优秀质量的轮廓测量系统。微调的设备配置可提供卓越的性能标准。驱动装置和测量立柱通过可靠的测量和评估软件进行控制和定位。
  • 可以显示用户提示
  • 交互控制元素支持评估和自动例行程序
  • 使用双探针测头测量上下轮廓;也可对两个轮廓进行相对评估
  • 剖面图像,可评估各剖面的不同参数
  • 可对孔或陡峭对象等障碍进行分段测量
  • 支持导入和导出 dxf 文件以对比设定点/实际值
  • PCV 200 驱动装置采用专利的测杆安装方式,无需工具即可完成可重复性测杆更换
  • 专利测头系统,提高测量站灵活性
  • 手动可变扫描力,同样提高灵活性
  • 使用直线和圆弧合成标称轮廓
  • 方便比较标称和实际轮廓 可通过轮廓内的描述选择不同的公差


接触速度(Z 方向)

0.1 1 mm/s

测杆长度

175 mm, 350 mm

测量速度(文本)

0.2 mm/s 4 mm/s

针尖半径

25 µm

扫描长度末尾(X 方向)

200 mm

分辨率

Z 方向,相对探针针头:0.38 µm350 mm 测杆)/ 0.19 µm175 mm 测杆)

Z 方向,相对于测量系统:0.04 µm

扫描长度开始(X 方向)

0.2 mm

取样角

在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77°

定位速度(文本)

X 方向返回速度:0.2 8 mm/s

Z 方向:0.2 10 mm/s

导块偏差

< 1 µm200 mm 以上)

测量范围 mm

Z 方向)50 mm

扫描长度(文本)

0.2 mm 200 mm

测量力 (N)

1 mN 120 mN,以下和以上(可在 MarSurf XC 20 中设置


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